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Journal Of Electronic Imaging

  • ISSN:1017-9909
  • ESSN:1560-229X
  • 國際標準簡稱:J ELECTRON IMAGING
  • 出版地區:UNITED STATES
  • 出版周期:Quarterly
  • 研究方向:工程技術 - 成像科學與照相技術
  • 出版年份:1992
  • 語言:English
  • 是否OA:未開放
  • 學科領域

    計算機科學
  • 中科院分區

    4區
  • JCR分區

    Q4
  • IF影響因子

    1
  • 是否預警

期刊簡介

Journal Title:Journal Of Electronic Imaging

The Journal of Electronic Imaging publishes peer-reviewed papers in all technology areas that make up the field of electronic imaging and are normally considered in the design, engineering, and applications of electronic imaging systems.

中文簡介

《電子成像雜志》發表電子成像領域所有技術領域的同行評審論文,這些論文通常涉及電子成像系統的設計、工程和應用。

期刊點評

Journal Of Electronic Imaging創刊于1992年,由SPIE出版商出版,收稿方向涵蓋工程技術 - 成像科學與照相技術全領域,此期刊水平偏中等偏靠后,在所屬細分領域中專業影響力一般,過審相對較易,如果您文章質量佳,選擇此期刊,發表機率較高。平均審稿速度 約4.0個月 ,影響因子指數1,該期刊近期沒有被列入國際期刊預警名單,廣大學者值得一試。

中科院分區(數據版本:2023年12月升級版)

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

名詞解釋:
中科院分區也叫中科院JCR分區,基礎版分為13個大類學科,然后按照各類期刊影響因子分別將每個類別分為四個區,影響因子5%為1區,6%-20%為2區,21%-50%為3區,其余為4區。

中科院分區(數據版本:2022年12月升級版)

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

中科院分區(數據版本:2021年12月舊的升級版)

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

中科院分區(數據版本:2021年12月基礎版)

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

中科院分區(數據版本:2021年12月升級版)

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

中科院分區(數據版本:2020年12月舊的升級版)

大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 4區 4區 4區

WOS分區(數據版本:2023-2024年最新版)

按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.3%

學科:OPTICS SCIE Q4 99 / 119

17.2%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 289 / 354

18.5%

學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY SCIE Q4 31 / 36

15.28%

學科:OPTICS SCIE Q4 104 / 120

13.75%

名詞解釋:
WOS即Web of Science,是全球獲取學術信息的重要數據庫,Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息,來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內容。給期刊分區時會按照某一個學科領域劃分,根據這一學科所有按照影響因子數值降序排名,然后平均分成4等份,期刊影響因子值高的就會在高分區中,最后的劃分結果分別是Q1,Q2,Q3,Q4,Q1代表質量最高。

CiteScore分區(數據版本:2024年最新版)

CiteScore SJR SNIP CiteScore排名
1.7 0.264 0.357
學科 分區 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 540 / 797

32%

大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics Q3 167 / 224

25%

大類:Engineering 小類:Computer Science Applications Q3 610 / 817

25%

名詞解釋:
CiteScore:衡量期刊所發表文獻的平均受引用次數。
SJR:SCImago 期刊等級衡量經過加權后的期刊受引用次數。引用次數的加權值由施引期刊的學科領域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標準化影響將實際受引用情況對照期刊所屬學科領域中預期的受引用情況進行衡量。

其他數據

是否OA開放訪問: h-index: 年文章數:
未開放 60 316
Gold OA文章占比: 2021-2022最新影響因子(數據來源于搜索引擎): 開源占比(OA被引用占比):
3.76% 1 0.03...
研究類文章占比:文章 ÷(文章 + 綜述) 期刊收錄: 中科院《國際期刊預警名單(試行)》名單:
98.10% SCIE

歷年IF值(影響因子):

歷年引文指標和發文量:

歷年中科院JCR大類分區數據:

歷年自引數據:

發文統計

近年引用統計:

期刊名稱 數量
IEEE T IMAGE PROCESS 573
IEEE T PATTERN ANAL 435
J ELECTRON IMAGING 163
PATTERN RECOGN 159
INT J COMPUT VISION 153
NEUROCOMPUTING 118
IEEE T CIRC SYST VID 105
ACM T GRAPHIC 74
MULTIMED TOOLS APPL 74
PATTERN RECOGN LETT 73

近年被引用統計:

期刊名稱 數量
IEEE ACCESS 167
J ELECTRON IMAGING 163
MULTIMED TOOLS APPL 118
SENSORS-BASEL 67
SIGNAL PROCESS-IMAGE 44
APPL SCI-BASEL 29
IEEE T IMAGE PROCESS 29
IET IMAGE PROCESS 29
OPT EXPRESS 27
NEUROCOMPUTING 26

近年文章引用統計:

文章名稱 數量
Image privacy scheme using quant... 13
Defogging of road images using g... 10
SWCD: a sliding window and self-... 10
Single image dehazing using a mu... 10
Optimized fuzzy cellular automat... 9
Infrared and visible image fusio... 8
Image segmentation via multileve... 8
Joint classification of multires... 7
Improved opponent color local bi... 6
Combining background subtraction... 6

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更多問題

免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。

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