正弦波調(diào)制技術(shù)在光損耗測試儀中的應(yīng)用
作者：孫強(qiáng); 張愛國 中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所; 山東青島266555
摘要：針對傳統(tǒng)光損耗測試儀存在預(yù)熱時間長、溫度變化對紅外光源輸出功率變化影響較大等不足,提出了用正弦波信號對紅外光源進(jìn)行調(diào)制的方案。此方法有效解決了這些問題,獲得了較好的測試效果。首先,介紹了三種正弦波信號的產(chǎn)生方法,其中直接數(shù)字式頻率合成(Direct Digital Synthesis, DDS)方法產(chǎn)生的正弦波具有較高的頻率分辨率和頻率穩(wěn)定度。其次,介紹了DDS芯片AD9832的內(nèi)部構(gòu)造及轉(zhuǎn)換原理,將其產(chǎn)生的正弦波信號應(yīng)用到光損耗測試儀中。比較了正弦波信號調(diào)制前后以及預(yù)熱前后紅外光源功率的變化情況。結(jié)果表明,經(jīng)過正弦波調(diào)制的紅外光源的穩(wěn)定性明顯優(yōu)于調(diào)制前,用戶能更方便地進(jìn)行快速光損耗測試。
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紅外雜志
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