摘要:在硅酸鹽、鋁酸鹽、硅酸鹽與鋁酸鹽復合3種電解液體系中對純鎂表面進行微弧氧化處理,通過掃描電鏡觀察、能譜分析、X射線衍射分析和電化學測試等方法研究了微弧氧化膜的組織及性能。結果表明:硅酸鹽體系中得到的微弧氧化膜最厚,其厚度為34.54μm,組織相對致密均勻,主要由MgO和Mg2SiO4構成;復合體系中得到的微弧氧化膜的表面粗糙度最小,為0.19μm,組織致密均勻,主要由MgO、Mg2SiO4和MgAl2O4構成;鋁酸鹽體系中得到的微弧氧化膜組織的致密性最差,主要由MgO和MgAl2O4構成;硅酸鹽體系中得到的微弧氧化膜耐蝕性最好,其自腐蝕電流密度比基體的小一個數量級。
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